Fortæl dine venner om denne vare:
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
400 pages
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 11. oktober 2017 |
| ISBN13 | 9783527340910 |
| Forlag | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Antal sider | 384 |
| Mål | 251 × 176 × 25 mm · 978 g |
| Sprog | Engelsk |
| Klipper/redaktør | Lanza, Mario |
Se alt med M Lanza ( f.eks. Hardcover bog )